| 是否进口：否 | 产地：日本 | 品牌：日本santec |
| 型号：SweptTestSystem |
日本santec光学元件扫频测试系统SweptTestSystem
扫频测试系统
结合可调谐激光器（TSL系列）、功率计（MPM）、偏振控制单元（PCU-110）和定制软件，对研发和生产线上的IL/WDL/PDL进行高效测量和评估。您可以做到。
多站测量
通过将扫描测试系统与多分支单元相结合，可以进一步提高检查和评估的效率。
概述
扫频测试系统结合了可调谐激光器（TSL 系列）、多端口功率计（MPM 系列）、偏振控制单元（PCU-110）和专用软件，是光学器件研发和生产现场的理想选择。它是一种评估工具。IL/WDL/PDL 可以通过同时获得通过 DUT 传输的光功率，同时实时参考可调谐激光器的输出功率来进行高精度测量。系统采用穆勒矩阵法计算 PDL。
特征
实时功率参考
高精度 IL/WDL/PDL 特性测量
- 高 IL 再现性 <± 0.02 dB
- 高 PDL 再现性 ± 0.01 dB
缩放算法
- 以高波长分辨率和波长精度
进行测量 - 能够减少测量时间
可进行多通道测量
图形用户界面和 DLL 支持 (Visual Studio)
- 轻松配置测量参数
- 数据分析
详细规格请参阅目录。
WDL（波长相关损耗）
测量 超过 80 dB 的高动态范围测量
Thorlabs 的TSL 系列可调谐激光器采用创新的腔体设计，可降低光学 ASE 噪声，实现非常高的信噪比和高光输出功率。因此，该系统可以在多个端口同时评估具有高动态范围特性的光学元件的特性。
应用
光学元件、模块评估
- 波长选择开关 (WSS)、AWG、波长阻挡
器 - 可调谐滤波器、交织器、FBG、耦合器、隔离器、光开关
- DWDM 组件
光子器件/微腔谐振器评估
光谱测量
