| 是否进口：否 | 产地：日本 | 加工定制：否 |
| 类型：薄膜测厚仪 | 品牌：日本fujiwork | 型号：HKT-MASTER 0.01AA |
| 测量范围：0-500μmmm |
超薄膜测厚仪HKT-MASTER 0.01AA是一款高精度测量设备，主要用于测量超薄膜的厚度，精度可达0.01微米（AA）。以下是其主要特点和应用领域：
主要特点：
高精度：测量精度达0.01微米，适合超薄膜的***测量。
非接触式测量：通常采用光学或激光技术，避免对薄膜造成损伤。
快速测量：能在短时间内完成测量，提升效率。
多功能性：可测多种材料，如金属、塑料、玻璃等。
用户友好：操作界面简单，数据易于读取和分析。
应用领域：
半导体行业：用于测量晶圆、光刻胶等超薄膜。
光学薄膜：用于镜头、滤光片等光学元件的薄膜测量。
电子行业：用于显示屏、触摸屏等薄膜材料的厚度检测。
材料研究：用于新材料研发中的薄膜厚度测量。
技术参数（示例）：
测量范围：0.01微米至几微米
精度：±0.01微米
测量速度：每秒数次测量
光源：激光或白光干涉仪
输出：数字显示，支持数据导出
使用注意事项：
校准：定期校准以***测量精度。
环境控制：避免振动和温度波动影响测量结果。
样品准备：确保样品表面清洁平整。
总结：
HKT-MASTER 0.01AA适用于需要高精度薄膜厚度测量的行业，其高精度和非接触式测量特性使其在半导体、光学和电子领域尤为重要。
