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日本SENA半导体晶圆表面划痕,瑕疵,缺陷检查灯185LE

日本SENA半导体晶圆表面划痕,瑕疵,缺陷检查灯185LE

日本Sena卤素强光灯185LE凭借其高照度(400,000Lux以上)和优异的光学性能,广泛应用于多个工业检测领域,尤其是在需要高精度表面检测的场景中。

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    广东 深圳 龙岗区 和健云谷2栋1002
是否进口:否产地:日本品牌:日本SENA
型号:185LE加工定制:否



日本 Sena 卤素强光灯 185LE 凭借其高照度(400,000Lux 以上)和优异的光学性能,广泛应用于多个工业检测领域,尤其是在需要高精度表面检测的场景中。以下是其在不同工业检测应用中的具体案例:

1. 半导体晶圆检测

  • 应用场景:半导体制造过程中,晶圆表面的微小缺陷(如划痕、裂纹、杂质颗粒等)会严重影响芯片的性能和良率。

  • 使用效果:Sena 卤素强光灯 185LE 的高照度能够清晰地显示晶圆表面的微小缺陷,帮助工人快速识别问题晶圆,避免有缺陷的产品进入后续工序,减少损失。

2. 液晶面板检测

  • 应用场景:在液晶面板(如 TFT 面板、彩色滤光片等)的生产过程中,表面缺陷(如点缺陷、线缺陷、Mura 缺陷等)会影响显示效果。

  • 使用效果:通过 185LE 的强光照射,检测人员可以清晰地观察到面板表面的缺陷,并根据光线反射和透射情况判断面板质量,确保只有合格产品进入组装环节。

3. 光学镜头检测

  • 应用场景:光学镜头表面的划痕、麻点、气泡以及镀膜不均匀等问题会影响镜头的光学性能。

  • 使用效果:通过调整 185LE 的照度和照射角度,可以清晰地观察到镜头表面的缺陷,确保每个出厂镜头都具有良好的光学性能。

4. 金属制品表面检测

  • 应用场景:高精度金属零部件(如不锈钢零件)的表面质量直接影响产品的外观和性能。

  • 使用效果:185LE 的高照度能够清晰地显示金属表面的微小瑕疵(如划痕、磕碰伤、氧化***等),帮助检测人员准确判断产品是否合格。

5. 玻璃基板检测

  • 应用场景:玻璃基板表面的裂纹、划伤、杂质等缺陷会影响其在电子显示、光学等领域的使用。

  • 使用效果:185LE 能够帮助检测人员快速发现玻璃基板表面的缺陷,确保其质量符合相关标准,满足下游行业的需求。

总结

Sena 卤素强光灯 185LE 凭借其高亮度、均匀的光线分布以及灵活的照射角度调整能力,成为工业检测中不可或缺的工具。它在半导体、液晶面板、光学镜头、金属制品和玻璃基板等领域的应用,***提高了表面缺陷检测的精度和效率,帮助企业提升产品质量,降低生产成本。


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